更新時(shí)間:2024-11-05
手持式全半導(dǎo)體激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器 型號(hào):CLJ-03A03 產(chǎn)品說明 該系列塵埃粒子計(jì)數(shù)器是以半導(dǎo)體激光器為光源的計(jì)數(shù)器,它利用激光光源的波長單一、能量集中的優(yōu)勢,克服了利用白熾燈為光源時(shí)的使用壽命短、能耗大、易受干擾、體積大等不利因素的影響,從而大大地提高了儀器的使用壽命測試靈敏度及正確度,并減小了體積,減輕了重量,攜帶更方便輕巧。
手持式全半導(dǎo)體激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器 型號(hào):CLJ-03A03
產(chǎn)品說明
該系列塵埃粒子計(jì)數(shù)器是以半導(dǎo)體激光器為光源的計(jì)數(shù)器,它利用激光光源的波長單一、能量集中的優(yōu)勢,克服了利用白熾燈為光源時(shí)的使用壽命短、能耗大、易受干擾、體積大等不利因素的影響,從而大大地提高了儀器的使用壽命測試靈敏度及正確度,并減小了體積,減輕了重量,攜帶更方便輕巧。
該系列主體功能是測量塵埃粒子的粒徑(0.3、0.5、1、3、5、10μm)和含塵顆粒數(shù)。
該系列化機(jī)內(nèi)軟件編進(jìn)了美國FS-209E標(biāo)準(zhǔn)能自動(dòng)按95%的置信度作出潔凈等級(jí)判斷,同時(shí)還可自動(dòng)換算成每立方米的含塵數(shù),方便用戶使用。
本系列主要技術(shù)指標(biāo)
自凈時(shí)間≤6分鐘
重復(fù)性≤10%
分布準(zhǔn)確度 ≤30%
示值誤差 ≤30%
光源使用壽命:30000小時(shí)以上
手持式全半導(dǎo)體激光塵埃粒子計(jì)數(shù)器 ?
詳細(xì)參數(shù)
型號(hào)
CLJ-03A03
采樣量 2.83 L/min
大采樣濃度 3.5萬顆/L
可測粒徑 0.3、0.5、1、3、5、10μm
采樣周期 1--10min
自凈時(shí)間 ≤6分鐘
測量方式 測量點(diǎn)數(shù)(A 2--7),采樣次數(shù)(L 2-9)
打印方式 外接打印機(jī)(另配)/計(jì)算機(jī)打印
打印格式 計(jì)算機(jī)控制 分ALL 209E ISO14644-1 95%置信
電源 DC 7.2V
功率 3W
外形尺寸 (mm) 52×100×170
重量 0.8Kg
功能配置
液晶顯示、溫濕度傳感、自動(dòng)判別凈化級(jí)別、通訊接口RS232、光盤軟件、存1530個(gè)數(shù)據(jù)、交直流兩用、選配三腳支架
四探針電阻率測試儀 四探針電阻率儀 四探針電阻率測定儀/電阻率測試儀型號(hào):RTY-WSP-25
硅料分選檢驗(yàn)綜合儀是一款專門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗(yàn)、檢測而設(shè)計(jì)的。它可以快速準(zhǔn)確測量硅料的電阻率。可以檢測所有類型的硅料:母合金摻雜濟(jì)電阻率檢測可以精確到0.0001-0.0999Ω﹡㎝,及各種碎片料、米粒料、片料,塊料,頭尾料、堝底料、邊皮料等等。
產(chǎn)品特點(diǎn):
■電阻率測量:大屏幕清晰顯示硅料電阻率值,方便檢料工快速分選
■ 電流測量:本儀器采用良好芯片技術(shù),可通過調(diào)節(jié)硅材料厚度,儀器可直接鎖定電流,使測量使用更加簡便準(zhǔn)確,本儀器可根據(jù)需要配備測試平臺(tái), 利用測試平臺(tái)可以測試薄片電阻率
■ 四探針:一次測量,顯示完整電阻率值。
■ 采用了*的恒流源技術(shù),能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求
推薦工作條件:
■ 溫度:23±2℃
■ 濕度:60%~70%
■ 無強(qiáng)磁場、不與高頻設(shè)備鄰近
技術(shù)指標(biāo):
低阻電阻率量程:0.0001~0.0999Ω﹡㎝
低阻測量精度:精確到千分位(即精確到小數(shù)點(diǎn)后四位)
注:低阻一般用于測量低于0.1.0Ω﹡㎝以下硅料,如母合金,高于0.1.0Ω﹡㎝一
般用高阻測量。
使用方法:
1, 接好電源線,將儀器接上220V交流電,供電,若無電則需要檢查或更換在儀器后面的電源插頭處的保險(xiǎn)絲,規(guī)格為1A,或檢查電源線是否插好。
2,面板數(shù)顯表測量時(shí)顯示為電阻率值,按鍵調(diào)節(jié)開關(guān)調(diào)節(jié)硅材料厚度,硅材料厚度小于3.98mm按實(shí)際厚度對照厚度調(diào)節(jié)按鈕調(diào)節(jié),如2.18就調(diào)到218,厚度大于3.98的都調(diào)到3。98,厚度調(diào)好后選擇高阻或低阻可直接測試即可
測量電阻率:
1校厚:)四探針針頭壓住待測樣片,根據(jù)所測硅料厚度調(diào)動(dòng)按鈕至所要求厚度,
測試四探針筆:
1一般情況下,更換鋼針之類,不需要拆開探頭,只需要用拔出要更換的鋼針,再重新安裝新針,如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出,必須按照以下步驟進(jìn)行操作:
A先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲,輕輕脫下尾部航空插口,保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時(shí)同步旋轉(zhuǎn),防止扭線斷線,短接,
B輕輕擰開探針頭子,然后小心將銅片拉出,記住七片緣片與銅片之間的位置,(四片銅片每片見夾一片緣片,兩邊的銅片外側(cè)各兩片),將斷針從銅片卡口座里取下即可,
C特別注意一定不能將銅片取下時(shí)的位置錯(cuò)亂,銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列,并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列,以免短接。
D安裝時(shí)銅片及緣片按照拆下時(shí)的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子,并先將探針頭子擰緊,再將尾部航空頭插上,并且旋緊小螺絲,
E將針裝好,注意針頭針尾方向,尖頭為探針頭部
注意事項(xiàng):
1儀器操作前請您仔細(xì)閱讀使用說明書,規(guī)范操作。
2輕拿輕放,避免儀器震動(dòng),水平放置,垂直測量,
3儀器不使用時(shí)請切斷電源,連接線無需經(jīng)常拔下,避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象,
4探針筆測試結(jié)束,套好護(hù)套,避免人為斷針,